納米深度的結(jié)構(gòu)信息是什么

　　在這里需要一個嚴格的控制等待測量樣品標本表面的狀態(tài)，則就需要保證分析部位的結(jié)構(gòu)能夠真實的反映出有

　　效的材料表層的納米深度的結(jié)構(gòu)信息主體結(jié)構(gòu)特征。

　　對于粉末狀態(tài)的材料來說，則不論是直接高溫處理獲得的材料表面還是經(jīng)過切割后獲得材料斷面。

　　都不能夠反映出材料的主體結(jié)構(gòu)構(gòu)造，對于直接高溫處理的碳材料則表面碳層是由于缺少內(nèi)部碳層那樣的材料

　　進行的。

　　因此它們的內(nèi)部結(jié)構(gòu)發(fā)育不同的內(nèi)部碳層結(jié)構(gòu)，同時還需要受到內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織發(fā)逸出的影響，更加容易形成缺陷。

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